II.9.6. Ошибки при проведении спектрального анализа
Остановимся на возможных ошибках определения. Ошибки могут возникнуть на любом этапе анализа, начиная от отбора пробы и кончая последним этапом, когда от измеренного аналитического сигнала переходят к концентрации. Общая погрешность результата анализа складывается из всех частных ошибок. Соответственно можно выделить погрешность пробоотбора, погрешности, связанные с процессами в источнике возбуждения спектра, погрешности регистрации и измерения аналитического сигнала. Кроме того, источниками погрешности могут являться процессы градуировки и перехода от измеренных аналитических сигналов к концентрациям.
Погрешности стадии пробоотбора обычно связаны с загрязнением пробы определяемыми элементами, их потерями при транспортировке и хранении пробы, неадекватностью состава отобранной пробы составу исследуемого объекта (неоднородность исследуемого объекта). Случайные погрешности на стадии атомизации и возбуждения связаны с флуктуациями работы источника излучения. Погрешности на стадии регистрации и измерения аналитического сигнала связаны с нестабильностью систем регистрации.
Все ошибки измерений можно разделить на случайные и систематические. Случайные ошибки связаны со случайным разбросом результатов измерения. Избежать их невозможно, однако их можно значительно уменьшить выбором условий проведения измерения. Так, например, при фотоэлектрической регистрации сигнала, когда погрешность измерения сигнала крайне мала, наибольшая ошибка связана с нестабильностью источника света и неоднородностью проб. Поэтому здесь следует более внимательно подходить к выбору источника света, способа введения проб и т.п. К снижению случайных ошибок приводит также увеличение числа параллельных измерений.
Основной причиной систематической ошибки является несоответствие стандартных образцов анализируемым пробам. При этом градуировочный график, построенный с использованием таких стандартов, не отражает истинной связи между концентрацией и аналитическим сигналом для анализируемых проб. Для снижения систематической погрешности необходимо правильно подобрать стандартные образцы или так изменить условия измерения, чтобы различия между стандартными образцами и пробами не оказывали влияния на результаты определения. Возможен также учет надежно измеренной величины систематической погрешности путем математической обработки результатов измерения.
- II. Атомно-эмиссионный спектральный анализ
- II.1. Краткая история метода
- II.2. Возбуждение спектра
- II.3. Интенсивность спектральной линии
- II.3.1. Выбор внутреннего стандарта и аналитической пары линий
- II.3.2. Эффекты взаимного влияния элементов
- II.4. Спектральные приборы
- II.5. Источники возбуждения спектра
- II.5.1. Пламя
- II.5.2. Электрические источники
- Дуга постоянного тока
- Дуга переменного тока
- II.5.3. Индуктивно - связанная плазма
- II.6. Осветительная система
- II.7. Диспергирующие элементы
- II.7.1. Светофильтры
- II.7.2 Спектральные призмы
- II.2.3. Дифракционные решетки
- II.7.4. Оптические схемы спектральных приборов
- II.8. Регистрация спектра
- II.8.1. Визуальная регистрация спектра
- II.8.2. Фотографическая регистрация спектра
- II.8.3. Фотоэлектрическая регистрация спектра
- II.8.4. Фотодиодная матрица
- II.9. Методы атомно-эмиссионного спектрального анализа
- II.9.1. Классификация спектральных приборов
- II.9.2. Подготовка образцов для спектрального анализа
- II.9.3. Качественный анализ
- Спектральные линии и пределы обнаружения при атомно-эмиссионном определении элементов на спектрографах исп-28, исп-30
- II.9.4. Полуколичественный спектральный анализ
- II.9.5. Количественный спектральный анализ
- II.9.6. Ошибки при проведении спектрального анализа