II.3.1. Выбор внутреннего стандарта и аналитической пары линий
Правильный выбор внутреннего стандарта чрезвычайно важен для надежного анализа. В идеальном случае все физические и химические свойства внутреннего стандарта должны быть идентичны соответствующим свойствам определяемого элемента. При этом оба элемента будут вести себя одинаково во время всех физических и химических процессов, происходящих при возбуждении спектра, в результате чего будет обеспечена высокая воспроизводимость аналитического сигнала. Это идеальное положение можно было бы полностью реализовать, если в качестве элемента сравнения использовать стабильный изотоп определяемого элемента. На практике в качестве внутреннего стандарта выбирают элемент с близкими к определяемому элементу свойствами (обычно из элементов основы). Очевидно также, что непрактично использовать различные внутренние стандарты для всех определяемых элементов сложных веществ. Обычно для определения нескольких компонентов в одной пробе применяют не более двух внутренних стандартов.
Рассмотрим теоретические предпосылки, лежащие в основе выбора аналитической пары линий. Их можно классифицировать как требования к условиям возбуждения, разложения излучения в спектр и условиям измерения интенсивности. Влияние флуктуаций условий возбуждения на отношение интенсивностей Iа/Iс можно уменьшить выбором такой пары линий, переходы которых принадлежат одному физическому (атомному) состоянию и имеют близкие энергии возбуждения. Так, если потенциалы ионизации определяемого элемента и элемента сравнения близки друг другу, то обычно невыгодно выбирать атомную линию одного элемента и ионную для другого. Примерное равенство энергий возбуждения аналитической линии и линии сравнения приводит практически к одинаковым изменениям интенсивностей этих линий, обусловленных флуктуациями условий возбуждения. Ввиду различной спектральной чувствительности систем регистрации спектра к излучению разных длин волн, а также возможной неоднородности фотоэмульсии (при фотографической регистрации спектра) желательно, чтобы аналитическая линия и линия элемента сравнения обладали близкими длинами волн.
- II. Атомно-эмиссионный спектральный анализ
- II.1. Краткая история метода
- II.2. Возбуждение спектра
- II.3. Интенсивность спектральной линии
- II.3.1. Выбор внутреннего стандарта и аналитической пары линий
- II.3.2. Эффекты взаимного влияния элементов
- II.4. Спектральные приборы
- II.5. Источники возбуждения спектра
- II.5.1. Пламя
- II.5.2. Электрические источники
- Дуга постоянного тока
- Дуга переменного тока
- II.5.3. Индуктивно - связанная плазма
- II.6. Осветительная система
- II.7. Диспергирующие элементы
- II.7.1. Светофильтры
- II.7.2 Спектральные призмы
- II.2.3. Дифракционные решетки
- II.7.4. Оптические схемы спектральных приборов
- II.8. Регистрация спектра
- II.8.1. Визуальная регистрация спектра
- II.8.2. Фотографическая регистрация спектра
- II.8.3. Фотоэлектрическая регистрация спектра
- II.8.4. Фотодиодная матрица
- II.9. Методы атомно-эмиссионного спектрального анализа
- II.9.1. Классификация спектральных приборов
- II.9.2. Подготовка образцов для спектрального анализа
- II.9.3. Качественный анализ
- Спектральные линии и пределы обнаружения при атомно-эмиссионном определении элементов на спектрографах исп-28, исп-30
- II.9.4. Полуколичественный спектральный анализ
- II.9.5. Количественный спектральный анализ
- II.9.6. Ошибки при проведении спектрального анализа